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新製品:マスクブランクス欠陥検査装置 「MAGICSシリーズ M8350/M8351」を発表

2014年04月10日

設計ルール14nm~7nm世代の最先端半導体フォトマスク用マスクブランクス欠陥検査装置

この度レーザーテックは、設計ルール14nm~7nm世代の最先端半導体フォトマスク用マスクブランクス欠陥検査装置MAGICSシリーズM8350/M8351(以下、M8350/51)を製品化し、今月より受注を開始いたします。

説明

当社のマスクブランクス欠陥検査装置MAGICSシリーズは、長年にわたり高い評価と信頼をいただき、業界標準機としてマスクブランクスメーカーでの全数検査およびマスクショップでの受け入れ検査やプロセス管理で活用されております。一方、EUVリソグラフィー実用化の遅延により、光リソグラフィーの延命によるフォトマスクの微細化が進み、マスクブランクスにおいてもさらなる高感度検査による品質の管理、向上が急務となっております。

こうした次世代のニーズに対応すべく、この度当社は、フォトマスク用高品質マスクブランクスのQzサブストレートの欠陥検査をはじめ、各種成膜工程やレジスト膜の欠陥検査に対して高い検出感度を実現した最新鋭機M8350/51を開発しました。

M8350/51はMAGICSシリーズの基幹技術を用い、新規開発の355nmレーザー光源、検査光学系および欠陥検出回路により、微小欠陥の欠陥検出感度を大幅に向上させています。

本装置はすでに多くの引き合いをいただいており、今年中に複数台の納入を予定しています。レーザーテックは、これからも次世代高品質マスクブランクスの出荷品質の向上およびマスクショップでのマスクブランクス受け入れ検査やマスク製造のプロセス管理の改善に向けて貢献してまいります。

特長

  • 次世代高品質マスクブランクス検査に有効な高検出感度と、量産工場での出荷・受入検査に適した高スループットを両立した最新鋭欠陥検査装置
  • 既にマスクブランクス検査の業界標準機となっているMAGICSの基幹技術であるコンフォーカル光学系を採用した31本のマルチビームスキャン方式をベースに、微小欠陥に特化した欠陥検出回路を搭載
  • Qzサブストレートのみならず、最先端のMoSiバイナリーマスクや位相シフトマスク各層の欠陥検出感度を飛躍的に向上させ、より高品質なブランクスの選別が可能
  • カセットは、ブランクスメーカー向け多段カセットから、マスクショップ向けRSP、MRPおよびEUVL向けDual podまで対応が可能
  • M8351は、ライン & スペースのモニターパターン検査に対応した製品で、マスクショップでの各種プロセス管理に有効

用途

  • Qzサブストレート、Cr膜、MoSi膜、ハーフトーン膜、EUVマスクブランク(マルチレイヤー層、アブゾ―バー層)、レジスト塗布済みマスクブランクスの欠陥検査
  • 欠陥レビュー
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