半導体

マスク関連（EUV）
マスク関連（DUV）
ウェハ関連

マスク関連（EUV）

ACTIS A300シリーズ

アクティニックEUVパターンマスク欠陥検査装置

ACTIS A300シリーズ

ACTIS A150

アクティニックEUVパターンマスク欠陥検査装置

ABICS E120

EUVマスクブランクス欠陥検査/レビュー装置

MATRICS X9ULTRAシリーズ

マスク検査装置

MATRICS X9ULTRAシリーズ

MATRICS X8ULTRAシリーズ

マスク検査装置

MATRICS X8ULTRAシリーズ

MAGICSシリーズM9650/M9651

マスクブランクス欠陥検査/レビュー装置

MAGICSシリーズM9650/M9651

BASICシリーズ

EUVマスク裏面検査/クリーニング装置

BASICシリーズ

MZ100

マスクエッジ検査装置

マスク関連（DUV）

MATRICS X810EXシリーズ

マスク欠陥検査装置

MATRICS X810EXシリーズ

MATRICS X800LITEシリーズ

マスク欠陥検査装置

MATRICS X800LITEシリーズ

MAGICSシリーズ M6750/M6751

マスクブランクス欠陥検査/レビュー装置

MAGICSシリーズ M6750/M6751

MAGICSシリーズ M6640S/M6641S

マスクブランクス欠陥検査/レビュー装置

MAGICSシリーズ M6640S/M6641S

MPM193EX

位相差/透過率測定装置

MPM248

位相シフト量測定装置

ウェハ関連

SICA88

SiCウェハ欠陥検査/レビュー装置

GALOIS211

GaNウェハ欠陥検査/レビュー装置

CIRIUSシリーズ

高感度内部欠陥検査/レビュー装置

CIRIUSシリーズ

LXシリーズ

多波長ウェハ検査装置

CIELシリーズ

高感度ウェハエッジ検査装置

CIELシリーズ

EZ300

ウェハエッジ検査装置

VIANCAシリーズ

ビア深さ測定装置

VIANCAシリーズ

BGM300

TSV裏面研磨プロセス測定装置

BIM300

ウェハバンプ検査測定装置

MAGICSシリーズ M5640

ウェハ欠陥検査/レビュー装置

MAGICSシリーズ M5640

製品に関するお問い合わせ・資料請求

製品を探す

製品関連情報

レーザーテックの製品や技術に関する用語解説を掲載しています。ご活用ください。

展示会出展情報

レーザーテックが出展を予定している展示会情報を掲載しています。