EUVマスク裏面検査/クリーニング装置

BASICシリーズ

BASICシリーズ

EUVマスク裏面の異物検出・高さ測定・クリーニング機能を1台に統合

関連ニュース

電子デバイス産業新聞主催 半導体・オブ・ザ・イヤー2013 
半導体製造装置部門 「グランプリ」受賞

特長

  • EUVマスク裏面の異物検出に最適化した検査光学系
  • EUV露光に影響を及ぼす異物の高さ測定機能
  • EUV露光に影響を及ぼす異物のクリーニング(除去)機能
  • 発塵リスクの無いデュアルポッドハンドリング方式
  • パターンにダメージを与えないスキャン方式
  • EUV量産において適用可能な検査時間
  • OHT(Overhead Hoist Transport)と連動した全自動検査
  • 電源・制御系統を本体に内蔵したオ―ルインワン設計によるコンパクト化

用途

  • ウェハファブにおけるEUVマスク裏面の定期管理・受け入れ検査
  • EUVマスク裏面の異物の検出・高さ測定・クリーニング
  • マスクメーカ、ブランクスメーカにおける出荷検査

仕様

装置本体サイズ 1,550 (W) x 2,955 (D) x 2,400 (H)
検査対象マスク EUV masks (6 inch)
その他 お客さまのニーズに合わせて、BASICシリーズの検査、測定およびクリーニング機能の最適な組合せをご提案いたします。詳しくはお問い合わせください。
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