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新製品:大型マスクブランクス欠陥検査装置「LBIS Series L852/L1052」を発表

2016年03月30日

従来機から検査性能を一新
高精細大型フォトマスク製造の歩留り改善に貢献

この度レーザーテック株式会社は、大型マスクブランクス欠陥検査装置LBIS(エルビス)を発表いたします。LBISは、FPD生産用途に使用される大型マスクブランクスの高感度かつ高スループットな欠陥検査とレビューが可能です。

説明

近年のFPD業界では、スマートフォンに代表される高精細ディスプレイや、4K・8K高解像度テレビへの対応が急務となっており、大型フォトマスクのパターンの微細化が急速に進展しています。
それに伴い、フォトマスク製造に必要な大型マスクブランクスの品質管理が従来の目視検査では限界に達し、高感度な自動欠陥検査および欠陥種・サイズ分類まで行う品質管理の必要性が高まっています。

レーザーテックでは、こうしたマスクブランクスでの高感度検査ニーズに対応すべく、2008年に発表したLB79の後継機種として、新製品LBISシリーズを製品化致しました。光学系の刷新により、高感度化・高スループット化を実現し、さらに自動欠陥レビューと自動欠陥分類機能を標準機能としました。
LBISの適用によって、マスクブランクスの品質向上およびマスクの歩留り改善に貢献します。

特長

  • ハイパワーレーザー散乱光学系の採用により、高感度化・高スループット化を実現します
  • 反射微分干渉/透過光学系による高倍率欠陥レビューが可能です
  • 新開発のソフトウェアにより自動欠陥レビューを行ない、欠陥種・サイズの同時分類処理が可能です
  • G8/G10サイズまで対応可能です
  • 各種アシストアームへの対応が可能です

用途

  • Qzサブストレートの出荷・受入検査・レビュー(洗浄後・研磨後)
  • クロムまたは酸化クロム成膜後の欠陥検査・レビュー
  • レジストコート後の欠陥検査・レビュー
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