新製品 マスクブランクス欠陥検査/レビュー装置MAGICSシリーズM9750/M9751を発表
2025年12月08日

次世代の最先端半導体マスク用ブランクス欠陥検査/レビュー装置
この度、レーザーテックは次世代に向けた最先端半導体用マスクブランクス※1欠陥検査装置/レビュー装置として、従来モデルに比べて高感度・高スループット化を実現したMAGICSシリーズM9750/M9751(以下、M9750/51)を製品化いたしました。
説明
当社のマスクブランクス欠陥検査/レビュー装置MAGICSシリーズは、長年にわたりお客さまより高い評価と信頼をいただき、業界標準機としてマスクブランクスメーカーでの出荷検査およびマスクショップでの受入検査やプロセス管理で活用されてきました。近年、プロセスの微細化に伴う新構造の適用など、EUVマスクには継続的な技術革新が推進されており、これに対応するため、マスクブランクス検査にもさらなる高性能・高機能化が必要とされています。
こうした次世代に向けたニーズに対応すべく、当社はEUV用マスクブランクスと、サブストレート※2の欠陥検査に対して高い検出感度を実現した最新鋭機M9750/51を開発いたしました。
M9750/51はMAGICSの基幹技術をベースとし、検査光学系を刷新するとともに、当社マスクパターン検査装置で培った高速検査回路技術を採用することで、微小欠陥の欠陥検出感度が大幅に向上しています。また、EUVマスク製造時の欠陥ミチゲーションを行うために、高精度X-Yステージを搭載し欠陥座標精度も大きく改善しています。
本装置はすでに多くの引き合いをいただいており、複数台の納入が決定しております。レーザーテックは、これからも次世代高品質マスクブランクスの出荷品質の向上およびマスクショップでのマスクブランクス受け入れ検査やマスク製造プロセス管理の改善に貢献してまいります。
- ※1マスクブランクス:パターニングされる前のフォトマスク製造用の基板
- ※2サブストレート:マスクブランクスを作る前のガラス基板
特長
- 次世代半導体向け高品質EUVマスクブランクス欠陥検査に有効な高検出感度と、量産工場での出荷・受入検査に適した高スループットを両立
- 業界標準機MAGICSの基幹技術をベースとし、検査光学系を刷新するとともにマスクパターン検査装置で培った高速検査回路技術を採用
- サブストレートや最先端半導体用マスクブランクス各層の欠陥検出感度を飛躍的に向上させ、高品質なブランクスの選別が可能
- EUVマスク製造時の欠陥ミチゲーションに必要な高精度な欠陥座標を出力
- M9751はライン&スペースのモニターパターン検査に対応し、マスクショップでの各種プロセス管理に有効
用途
- EUVマスクブランクスやサブストレート上の微小欠陥の検査
- 検査と同時のインスタント欠陥レビューおよび高倍率欠陥レビュー
- 微小欠陥のサイジング
- 高精度な欠陥座標の出力
