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            新製品 IRコンフォーカルマイクロスコープ 「OPTELICS IR」を発表
2025年01月20日

高輝度な赤外線(IR)照明によるコンフォーカル光学系を搭載し、非破壊・非接触での高解像度IR観察と、高精度な測定を実現
レーザーテック株式会社は、赤外光を用いたIRコンフォーカルマイクロスコープ「OPTELICS IR」を製品化し、受注を開始いたします。
説明
レーザーテックでは、ユニークで付加価値の高い製品群の一つとして、主に研究開発用途での観察・測定を行う、コンフォーカル顕微鏡を開発・販売しております。
このたび製品化した「OPTELICS IR」は、高輝度な赤外線(以下、IR)照明によるコンフォーカル光学系を搭載し、非破壊・非接触での高解像度IR観察と、高精度な測定を実現します。シリコンウェハをはじめ、IRを透過する材料を用いたデバイスの内部観察に有効です。特に、近年急速な発展を遂げているアドバンスドパッケージング市場において、アライメントズレ測定、ボイド検査や接着剥がれの観察など研究開発やプロセス改善の用途に最適です。
レーザーテックは、今後もお客さまのご要望にお応えする独自のソリューション開発によって、品質改善、生産性向上および業界の発展に貢献してまいります。
特長
- 高輝度IRコンフォーカル光学系を採用
 - 波長1000~1500nmでの高解像度観察が可能
 - 高精度なXY測定が可能
 - Z軸方向のオプティカルセクショニングによる高さ測定が可能
 
用途
- シリコンウェハなど、IRの透過特性を持つ材料の透過内部観察
 - 3次元実装評価・検査
 - アドバンスドパッケージングデバイス内部不良解析
 - 酸化膜犠牲層エッチングの非破壊エッチング量測定
 - 貼り合わせズレ量測定
 - SOI活性層厚み測定
 
