当社は2026年1月21日から東京ビッグサイトで開催される第40回ネプコンジャパン（エレクトロテストジャパン）に出展いたします。

レーザーテックブースでは、コンフォーカル光学系を用いた検査・測定装置を出展します。微細形状の観察・測定を行う多機能コンフォーカル顕微鏡「OPTELICS HYBRID＋」をはじめ、高速自動検査・測定に特化した「OPTELICS AI2」および「BIMシリーズ」を紹介します。これらは透明試料でも裏面反射の影響を受けずに検査・測定が可能です。
このほか、先端半導体の内部観察・測定を実現する「OPTELICS IR」、多光子励起フォトルミネッセンスによる化合物半導体内部の3D解析を実現する「OPTELICS UXM」などを出展します。
R&Dから量産まで各フェーズに対応できるさまざまなソリューションを提供します。（標準機）から量産試作（特殊ステージ仕様）、量産ライン（プロセス機）まで、あらゆるシーンに合わせた検査・計測に関するご相談も承っておりますので、ぜひ当社ブースにお立ち寄りください。

ネプコンジャパン　エレクトロニクス開発・実装展

東京ビッグサイト　E18-52