説明
走査型プローブ顕微鏡（SPM）の一種で探針と試料に作用するの原子間力を検出する顕微鏡。絶縁体試料の測定も可能で前処理、真空の環境も不要
真の使いやすさの追求。「計測アシスト機能」、「AI検査」をはじめとする新規ソフトウェアを搭載
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